题目：100G DP-QPSK发射机——获得正确的测量结果，从而轻松发现损伤问题
专家：EXFO研发部门资深研究科学家 何刚博士
时间：2011年3月25日(五) 上午10:00 (北京时间) (已完成)

研讨会的内容
随着新一代100G发射机终于在2011年开始从研发走向制造，业界会优先开发高度自动化的测试和测量解决方案，这些解决方案能够准确、迅速且可重复地捕捉这些模块的所有相关特性。供应链中的不同厂家将需要能够独立地进行此类测试，以便确保Tx性能参数同网络设备相兼容。遗憾的是，对于高符号率调制格式（如最近由OIF批准的DP-QPSK格式）来说，测试的本质和被测参数的值还未清楚定义。在此次网络研讨会上，我们将探讨如何通过分析星座图来发现并鉴定Tx损伤，并重点讨论100G DP-QPSK发射机。此外，我们还将探讨通过时域信息来补充星座图分析的方法如何在制造环境中更为有效。