题目:100G DP-QPSK发射机——获得正确的测量结果,从而轻松发现损伤问题
专家:EXFO研发部门资深研究科学家 何刚博士
时间:2011年3月25日(五) 上午10:00 (北京时间) (已完成)

研讨会的内容
随着新一代100G发射机终于在2011年开始从研发走向制造,业界会优先开发高度自动化的测试和测量解决方案,这些解决方案能够准确、迅速且可重复地捕捉这些模块的所有相关特性。供应链中的不同厂家将需要能够独立地进行此类测试,以便确保Tx性能参数同网络设备相兼容。遗憾的是,对于高符号率调制格式(如最近由OIF批准的DP-QPSK格式)来说,测试的本质和被测参数的值还未清楚定义。在此次网络研讨会上,我们将探讨如何通过分析星座图来发现并鉴定Tx损伤,并重点讨论100G DP-QPSK发射机。此外,我们还将探讨通过时域信息来补充星座图分析的方法如何在制造环境中更为有效。

EXFO研发部门资深研究科学家 何刚博士
何刚博士在光纤测试和测量领域有 19 年的工作经历,他于1992 加入 EXFO,至今已参与了 30 多个光纤相关产品的开发。现任Exfo公司研发部门高级研究科学家、他的主要研究方向包括先进光学设计、创新频谱分析方法、波导行为以及用于下一代网络的T&M技术和方法。何博士积极参与各标准委员会的工作,现为IEC(86C/WG1、86C/WG4和86B/ WG4)、TIA(TR-42.11)、OIF(PLL)等工作组成员,并任加拿大标准委员会IEC86C小组委员会主任委员。此外,他获得或申请了15项专利,并拥有加拿大 Laval 大学物理学博士学位和中国天津大学光学工程硕士与学士学位。

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